SiP检测

北检(北京)检测技术研究院检测中心提供手机通信SiP模块、智能手表SiP模块、蓝牙通信SiP模块、WiFi通信SiP模块、GPS定位SiP模块、NFC近场通信SiP模块、射频前端SiP模块等24+项SiP检测服务。旗下实验室拥有CMA、CNAS、ISO等检验检测资质,可出具SiP检测报告,依托多年技术积累,确保检测结果准确可靠。

2026-07-23 21:47:33 1次浏览 阅读时长 6分钟
SiP检测

检测信息(部分)

SiP(System in Package)系统级封装是一种将多个有源电子元器件和无源元器件集成于单一封装内的封装技术,通过三维堆叠或二维平面布局实现系统级功能集成,具有集成度高、体积小、性能优良等特点。

SiP产品广泛应用于移动通信终端、可穿戴电子设备、物联网传感节点、汽车电子控制单元、医疗电子器械、航空航天电子系统、工业自动化设备、智能家居产品等领域。

SiP检测涵盖外观质量检验、尺寸精密测量、焊接质量评估、材料成分分析、可靠性验证测试、电性能参数测试等内容,依据相关行业标准和技术规范开展检测工作,确保产品满足设计要求和客户需求。

检测项目(部分)

  • 外观缺陷检测——检查封装表面是否存在裂纹、划痕、污渍、变形等缺陷
  • 封装尺寸测量——测量封装体的长宽高尺寸是否符合设计规格
  • 焊球直径测量——检测焊球的直径尺寸是否在允许公差范围内
  • 焊球高度测量——检测焊球的高度尺寸是否满足焊接要求
  • 焊球共面度检测——评估所有焊球顶端是否处于同一平面
  • 焊点质量检测——检查焊接点的完整性、连续性和可靠性
  • 芯片厚度测量——测量裸芯片的厚度尺寸
  • 芯片位置精度——检测芯片在封装内的放置位置偏差
  • 引脚间距测量——检测引脚之间的间距尺寸
  • 引脚共面度检测——评估引脚端面是否处于同一平面
  • 封装翘曲度测量——检测封装体的弯曲变形程度
  • 剪切强度测试——测量焊球或芯片与基板结合的剪切力
  • 拉伸强度测试——测量焊点或引脚的抗拉强度
  • 弯曲强度测试——评估封装体在弯曲载荷下的强度
  • 热阻测试——测量封装体的热阻参数评估散热性能
  • 热循环测试——模拟温度循环环境验证产品可靠性
  • 温湿度循环测试——模拟温湿度变化环境验证产品耐久性
  • 高温存储测试——评估产品在高温环境下的存储稳定性
  • 低温存储测试——评估产品在低温环境下的存储稳定性
  • 高温高湿测试——评估产品在高温高湿环境下的耐受性
  • 机械冲击测试——模拟跌落冲击环境验证产品机械强度
  • 振动测试——模拟运输和使用振动环境验证产品可靠性
  • 跌落测试——模拟实际跌落场景验证产品抗冲击能力
  • 盐雾测试——评估产品在盐雾环境下的耐腐蚀性能
  • 绝缘电阻测试——测量封装体各引脚间的绝缘电阻值
  • 接触电阻测试——测量引脚与焊盘之间的接触电阻值
  • 耐电压测试——验证产品在规定电压下的绝缘性能
  • 电性能参数测试——检测产品的电气参数是否满足规格要求
  • X射线检测——通过X射线透视检测内部结构和缺陷
  • 超声波检测——通过超声波探测内部空洞和分层缺陷
  • 红墨水试验——检测焊点和封装界面的裂纹缺陷
  • 金相切片分析——通过切片观察内部结构和缺陷形貌
  • 材料成分分析——检测封装材料的元素组成成分

检测范围(部分)

  • 手机通信SiP模块
  • 智能手表SiP模块
  • 蓝牙通信SiP模块
  • WiFi通信SiP模块
  • GPS定位SiP模块
  • NFC近场通信SiP模块
  • 射频前端SiP模块
  • 电源管理SiP模块
  • 存储器SiP模块
  • 处理器SiP模块
  • 传感器SiP模块
  • MEMS传感器SiP
  • LED驱动SiP模块
  • 音频处理SiP模块
  • 相机模组SiP
  • 医疗电子SiP模块
  • 汽车电子SiP模块
  • 工业控制SiP模块
  • 物联网终端SiP模块
  • 可穿戴设备SiP模块
  • 航空航天SiP模块
  • 通信基站SiP模块
  • 雷达系统SiP模块
  • 卫星通信SiP模块

检测标准(部分)

序号 标准号 标准名称 类别 发布日期 CCS分类 ICS分类
1 Designing and Testing a Structural Insulated Panel(SIP) with the Help of Hygrothermal Model   (UNKNOWN)其他未分类      
2 GB/T 37140-2018(法语版) 检验检测实验室技术要求验收规范 (CN-GB)国家标准 2018-12-28 P33居住与公共建筑工程  
3 GB/T 23905-2009(英文版) 无损检测 超声检测用试块 (CN-GB)国家标准 2009-05-26 J04基础标准与通用方法  
4 GB/T 23911-2009(英文版) 无损检测 渗透检测用试块 (CN-GB)国家标准 2009-05-26 J04基础标准与通用方法  
5 GB/T 23907-2009(英文版) 无损检测 磁粉检测用试片 (CN-GB)国家标准 2009-05-26 J04基础标准与通用方法  
6 GB/T 38944-2020(英文版) 无损检测 中子小角散射检测方法 (CN-GB)国家标准 2020-06-02 J04基础标准与通用方法  
7 GB/T 12604.10-2023(英文版) 无损检测 术语 第10部分:磁记忆检测 (CN-GB)国家标准 2023-05-23 J04基础标准与通用方法  
8 GB/T 40307-2021(英文版) 无损检测 材料织构的中子检测方法 (CN-GB)国家标准 2021-05-21 J04基础标准与通用方法  
9 GB/T 23906-2009(英文版) 无损检测 磁粉检测用环形试块 (CN-GB)国家标准 2009-05-26 J04基础标准与通用方法  
10 GB/T 31211.1-2024(英文版) 无损检测 超声导波检测 第1部分:总则 (CN-GB)国家标准 2024-04-25 J04基础标准与通用方法  
11 GB/T 38898-2020(英文版) 无损检测 涂层结合强度超声检测方法 (CN-GB)国家标准 2020-06-02 J04基础标准与通用方法  
12 GB/T 44801-2024 系统级封装(SiP)术语 (CN-GB)国家标准 2024-10-26 L56半导体集成电路 31.200集成电路、微电子学
13 GB/T 31211.2-2024(英文版) 无损检测 超声导波检测 第2部分:磁致伸缩法 (CN-GB)国家标准 2024-05-25 J04基础标准与通用方法  
14 GB/T 41856.1-2022(英文版) 无损检测 工业内窥镜目视检测 第1部分:方法 (CN-GB)国家标准 2022-10-12 J04基础标准与通用方法  
15 GB/T 32073-2015(英文版) 无损检测 残余应力超声临界折射纵波检测方法 (CN-GB)国家标准 2015-10-09 J04基础标准与通用方法  
16 GB/T 41037-2021 宇航用系统级封装(SiP)保证要求 (CN-GB)国家标准 2021-12-31 V25电子元器件 49.060航空航天用电气设备和系统
17 GB/T 37140-2018(英文版) 检验检测实验室技术要求验收规范 (CN-GB)国家标准 2018-12-28 P33居住与公共建筑工程  
18 GB/T 36594-2018(英文版) 硬质合金超声检测方法 (CN-GB)国家标准 2018-09-17 H26金属无损检验方法  
19 ATIS T1.TR.82-2003 SIP Network Operators Implementers Guide for Pre-Paid Calling Card, with DTMF Detection at the PSTN-IP Gateway (US-ATIS)美国电信行业解决方案联盟 2003-09-01    
20 GB/T 38505-2020(英文版) 转基因产品通用检测方法 (CN-GB)国家标准 2020-03-06 A40基础学科综合  

检测仪器(部分)

  • 光学显微镜
  • 扫描电子显微镜
  • X射线检测仪
  • 超声波检测仪
  • 红外热像仪
  • 材料试验机
  • 推拉力测试仪
  • 芯片剪切测试仪
  • 焊球检测仪
  • 三坐标测量仪
  • 光谱分析仪
  • 热阻测试仪
  • 高低温试验箱
  • 温湿度试验箱
  • 振动试验台
  • 跌落试验机
  • 盐雾试验箱
  • 电性能测试仪
  • 数字示波器
  • 网络分析仪
  • 阻抗分析仪
  • 绝缘电阻测试仪
  • 耐电压测试仪

检测方法(部分)

  • 目视检查法——通过肉眼或借助放大设备观察封装外观缺陷
  • 光学显微检测——使用光学显微镜观察微观结构和表面缺陷
  • X射线透视检测——利用X射线穿透特性检测内部结构和缺陷
  • 超声波扫描检测——通过超声波反射信号检测内部空洞和分层
  • 红墨水渗透试验——通过红墨水渗透检测焊点和界面的裂纹缺陷
  • 金相切片分析法——通过制备切片观察内部结构和缺陷形貌
  • 热循环试验法——在温度循环环境下验证产品的可靠性
  • 温湿度循环试验——在温湿度变化环境下验证产品的耐久性
  • 机械冲击试验法——通过冲击载荷验证产品的机械强度
  • 振动试验法——在振动环境下验证产品的结构可靠性
  • 跌落试验法——模拟实际跌落场景验证产品的抗冲击能力
  • 盐雾试验法——在盐雾环境下评估产品的耐腐蚀性能
  • 电性能测试法——通过电性能参数测试验证产品功能
  • 拉伸试验法——通过拉伸载荷测量焊点和引脚的强度
  • 剪切试验法——通过剪切载荷测量焊球和芯片的结合强度
  • 热阻测试法——通过热阻参数测量评估产品的散热性能
  • 光谱分析法——通过光谱技术分析材料的元素组成
  • 绝缘电阻测试法——测量绝缘电阻评估产品的绝缘性能

总结

SiP检测服务对于保障电子产品质量和可靠性具有重要作用,通过系统的检测流程可以及时发现产品潜在缺陷,降低质量风险,提升产品市场竞争力。检测机构配备完善的检测设备和技术团队,能够为客户提供全面的SiP检测解决方案,助力企业产品研发和质量控制工作顺利开展。

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